Тестовый Кабель QianLi iBridge FPC для iphone 6 6S 7 7P, для проверки дефектов материнской платы, с сенсорным экраном, для передней и задней камеры, с датчиком отпечатка пальца

QianLi ToolPlus PCBA FPC Тестовый Кабель для iphone 6 6S 7 Plus 8 8plus x проверка неисправности материнской платы, новые диагностические решения для iphone 6 6S 7 7 p 8 8p x сбой материнской платы, iBridge FPC Тестовый Кабель для дисплея Touch FPC/Фронтальная задняя камера FPC/док-разъем FPC/отпечаток пальца Touch 3D FPC.

QianLi iBridge FPC Тестовый Кабель для iphone 6 6S 7 8 8p x проверка неисправности материнской платы

Макет материнской платы iphone является точным и компактным, и большинство контактов не имеют эпитаксиальной линии тестирования. Например, плата не подключается к ЖК-экрану. Когда плата загрузки не может обнаружить экран, не будет соответствующего выходного напряжения, и техники не могут обнаружить и проверить значение напряжения соответствующей цепи.

Этот Тестовый Кабель iBridg FPC для iphone 6/6p/6s/6sp/7/7p, проверка неисправности материнской платы, каждая модель имеет4 типа FPC Тестовый Кабель как: дисплей сенсорный FPC/Передняя Задняя камера FPC/док-разъем FPC/отпечатков пальцев Сенсорный 3D FPC.

Инструкция по эксплуатации: Подключите разъем на одном конце кабеля для измерения FPC к соответствующем разъему на материнской плате телефона и используйте внешние компоненты или компоненты материнской платы (например, камеру, дисплей, батарею, штепсельная вилка и т. д., все из которых могут быть подключены к разъему FPC на материнской плате). Затем подключите к соединителю на другом конце FPC и напечатайте тестовые помпоны всех интерфейсов FPC в виде лазерной печати или струйной струи на FPC, И отметьте параметры и контакты на тестовых точках. Когда устройство сбоя находится в выключенном состоянии, Мультиметр может использоваться для измерения параметров сопротивления тестовой точки на коннекторе FPC. По сравнению с параметром resjstanct нормального устройства, будет обнаружена ненормальная точка тестирования, а данные ненормальной точки тестирования анализируются для определения покрытия ошибки.